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Dr. Arturo Ramírez Porras

Dr. Arturo Ramírez Porras

Puesto: Profesor

Oficina: 107 FM

Teléfono: 2511-6571

Correo: arturo.ramirez@ucr.ac.cr

Especialización/Intereses de investigación: Semiconductores de baja dimensionalidad, desarrollo de detectores químicos para contaminantes ambientales.

Estudios Universitarios: 

- Maestría en Ingeniería Eléctrica, Universidad de Costa Rica (2006).

- Doctorado académico en Física Química, Universidad de Puerto Rico, Río Piedras (1998).

- Maestría en Física, Universidad de Puerto Rico, Río Piedras (1996).

- Bachillerato en Física, Universidad de Costa Rica (1987).

Publicaciones: 

- Y. Rojas-Fernández, M.J. Hernández-López, A. Ramírez-Porras, "Study of oxide bands in p-type porous layers". Materials Science in Semiconductor Processing, Vol. 97, pp. 44-47 (2019).

- C. Vargas, T. Ramírez-Cortés, K. Cordero-Solano, A. Ramírez-Porras, "Quantum Dots and Quantum Wires Contribution on Photoluminescent Properties of Nanostructured Oxidized Silicon". MRS Advances, 1-6 (2017).

- C. Vargas, A. Corrales, T. Ramírez-Cortés, A. Ramírez-Porras, "Study of the oxidation effect on the photoluminescence in p-type nanostructured silicon". Physica Status Solidi C, Vol. 12, pp. 1383-1386 (2015).

- A. Ramírez-Porras, O. García, C. Vargas, A. Corrales, J.D. Solís, "Stochastic quantum confinement in nanocrystalline silicon layers:The role of quantum dots, quantum wires and localized states". Applied Surface Science, Vol. 347, pp. 471-474 (2015).

- A. Ramírez-Porras, B.D. Fahlman, J.P. Badilla, V. López, "Organic Vapor Sensors Based on Functionalized Macroporous Si Using Single and Double-Side Electrochemical Etching". Microelectronic Engineering, Vol. 90, pp. 55-58 (2012).

- J.P. Badilla, D.C. Rojas, V. López, B.D. Fahlman, A. Ramírez-Porras, "Development of an Organic Vapor Sensor Based on Functionalized Porous Silicon". Physica Status Solidi A. Vol. 208, No. 6, pp. 1458-1461 (2011)

- E. Rucavado, J.P. Badilla, A. Ramírez-Porras, "The Effect of N2 in Vapor Detectors Based on Porous Silicon Layers". Electrochemical Society Transactions, Vol. 16, No. 3, pp. 299-303 (2008).

- M. Morales-Masis, A. Ramírez-Porras, "Determination of Vickers Microhardness on Porous Silicon Surfaces". Thin Solid Films, Vol. 516, pp. 1961-1963 (2008).

- M. Morales-Masís, L. Segura, A. Ramírez-Porras, "Correlation between Vickers Microhardness, Porous Layer Thickness and Porosity in p-type Nanostructured Silicon". Applied Surface Science, Vol. 253, pp. 7188–7191 (2007).

- A. Ramírez-Porras, W. E. Vargas-Castro, "Transmission of Visible Light Through Oxidized Cu Films: Feasibility of Using a Spectral Projected Gradient Method". Applied Optics, Vol. 43, No. 6, pp. 1508-1514 (2004).

- A. Ramírez Porras, S.Z. Weisz, "Stochastic Approach to the Smart Quantum Confinement Model in Porous Silicon". Surface Science, Vol. 515, Nos. 2-3, pp. 18-22 (2002).

Departamento o Sección: 

Física de la Materia Condensada

Contacto:

  (+506) 2511-6600

 

  escuela.fisica@ucr.ac.cr

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